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Programa

CURSO             : MUESTREO
SIGLA             : ELM2410
REQUISITOS : ELM2400
CRÉDITOS          : 12
MÓDULOS           : 3




I.    OBJETIVOS


1.  Entregar al alumno los fundamentos teoricos del muestreo probabilistico.
2.  Presentar las tecnicas y metodos basicos utilizados en la investigacion.
3.  Discutir la seleccion de los procedimientos mas adecuados en distintas situaciones.


II.   CONTENIDOS

1.  Uso y limitaciones del muestreo. Conceptos basicos. Herramientas probabilisticas.

2.  Muestreo Aleatorio Simple. Aplicacion a inferencia sobre proporciones y porcentajes. Determinacion de
    Tama?o de Muestra.

3.  Muestreo Estratificado. Muestreo por Conglomerados.

4.  Elementos de Muestreo Multietapico.

5.  Estimacion por Metodos de Razon. Estimacion de Regresion

6.  Otros tipos de muestreo. Muestreo sistematico y por cuotas.


III.  METODOLOGIA


      Basada especificamente en las siguientes actividades:

?   Clases expositivas
?   Clases de ejercicios
?   Pruebas
?   Examen
?   Proyectos


IV.   BIBLIOGRAFIA

      Azorin, P.                                     Curso de Muestreo y Aplicaciones, Aguilar, 1969.

      Cochran, W.                                    Tecnicas de Muestreo, Segunda Ed. Cecsa,1970.

      Jessen, R.                                     Statistical Survey Techniques, Wiley, 1978.

      Kish, L.                                       Muestreo de Encuestas, Trillas,1972.

      Konijn, H.S.                                   Statistical Theory of Sample Surveys Design and
                                                     Analysis. Wiley, 1973.

Sarndal, C.E., Swenson, B. y Wretmann, J. Model Assisted Survey Sampling. New York: Springer
                                          Verlag, 1992.

Scheaffer, R.L. Mendenahll, W. y Ott , L. Elementos de Muestreo. Mexico, D.F.: Grupo Editorial
                                          Iberoamericana,1987.

Sudman, S.                                Applied Sampling . New York: Academic Press,1976.

Thompson, S.                              Adaptive Sampling. New Yok: John Wiley, 1996.